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      分析儀器_氣相色譜_液相色譜_北京盛世華納科貿有限責任公司
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      產品名稱:CrossBeam®最佳的三維分析工具
      產品品牌:德國蔡司
      產品類別:電子顯微鏡
       產品詳細描述:
      儀器簡介:
      卡爾.蔡司CrossBeam®系列產品包含了一整套獨具特色的儀器。它從獨特的NEON®平臺出發,客戶可根據日常的分析工作、樣品制備以及高性能成像的具體應用來定制系統,直到NVision 40工作站,它可滿足最苛刻的成像要求,并提供與眾不同的離子束性能。 
      CrossBeam®這一獨特的產品系列,將場發射專利技術GEMINI®的出眾的成像能力與高性能的聚焦離子束鏡筒結合在一起,形成了一種嶄新的功能強大的系統。 一流的優中心(eucentric)樣品臺,結合功能完善、體積小巧的多通道氣體注入系統,讓CrossBeam®系列產品成為最佳的分析與檢驗工具。在FIB操作過程的整個放大倍數范圍內 特有的實時成像能力保證了在處理關鍵樣品時可實現全面的控制。憑借一系列選配功能,每一臺CrossBeam®工作站都可滿足最苛刻的應用需求。

      技術參數:
      CrossBeam®基本規格 
           電子光學    FIB 
      分辨率    1.1nm @ 20 kV
      2.5nm @ 1 kV     NEON®:        7nm @ 30 kV
      NVision40:     4nm @ 30 kV
      加速電壓    0.1 - 30 kV     NEON®:          2 - 30 kV
      NVision40:        5-30kV
                       1-5kV(opt.)
      束流    NEON®:   4pA - 10nA
      NVision40: 4pA - 20nA    NEON®:         1pA - 50nA
      NVision40:     0.1pA - 45nA 
      放大倍數    NEON®:   12 – 900kx
      NVision40: 30x-900kx    NEON®:         600x–500kx
      NVision40:       475x-500kx 
      發射器    熱場發射    Ga液態金屬離子源(Ga LMIS)
      標準探測器     內置式(In-lens)二次電子探測器與樣品室內ET探測器
      圖象處理    7種積分和平均模式 
      系統控制    基于Windows® XP的SmartSEM™ 

      主要特點:
       CrossBeam®工作模式:蝕刻、拋光過程中的高分辨率實時成像
       采用GEMINI®鏡筒實現超高分辨率成像
       超高精度的聚集離子束(FIB) 
       自動化的透射電子顯微鏡(TEM)樣品制備軟件包
       采用鏡筒內置式EsB探測器,獲得更好的組分像

         
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